SPHEREA斯飞测试系统
• 频率覆盖 2 MHz～400 MHz 的数字相位噪声与频率分析仪，专为高精度频率源研发测试而设计
• 采用独特数字架构，无需锁相环参考系统即可直接完成测量，简化设置，提升效率
• 本型号为 Light 版本，不带内部参考源，支持接入外部高稳参考信号（如双晶振、铷钟），配置灵活
• 无需锁相环：突破传统架构限制，简化设置，减少误差
• 跨频率测量：支持不同频率参考源与被测件之间的测量，适用广泛
• 连续互相关降噪：有效抑制本底噪声，灵敏度低至热噪声极限，抗互相关崩溃
• 多维度稳定度分析：支持艾伦方差与哈达玛方差，全面评估频率稳定度
• 一键式操作：连接即测，快速绘制曲线，默认300秒，支持用户编程
• 长期自动监测：支持长期测量与CSV数据导出，便于批量测试与深度分析
测量参数：单边带相位噪声（dBc/Hz）、杂散（dBc）、艾伦方差与重叠艾伦方差、哈达玛方差与重叠哈达玛方差。
相位噪声测量：支持最多10条曲线叠加显示，20个标记点
偏移频率范围：1 mHz～1 MHz（可用至10 MHz）
相位噪声测量灵敏度（典型残余相位噪声，开启互相关）：
10 MHz：-137 dBc/Hz @ 1 Hz
100 MHz：-121 dBc/Hz @ 1 Hz
相位噪声精度：±1 dB-2-3
频偏分析：支持1 mHz至1 MHz范围，通过连续互相关运算实现超低噪声测量
参考时钟：支持外部10 MHz参考源
杂散检测：基于噪声统计特性的可调峰值检测算法
分辨率带宽（RBW）：各频偏十倍频程可独立设置，通过1024点FFT与级联噪声抽取链实现
